Livello completo del sistema di prova di memoria flash e camera invecchiante accelerata bassa temperatura

specificazione di prodotto

Il sistema di prova intelligente del chip di memoria flash HD-512-NAND è un sistema di prova completo di memoria flash che può personalizzare il piano di prova e sostenere la prova parallela di vari tipi di particelle di memoria flash. 64 tipi, il numero massimo delle particelle di memoria flash parallelamente che provano possono raggiungere 512.

Il sistema di prova intelligente del chip di memoria flash YC-512-NAND supporta i modelli di prova multipli e le funzioni su ordinazione di parametro della prova e può fornire il processo di base della prova di un-clic ed il processo ad alto livello della prova l'alta flessibilità, non solo può realizzare la durata restante delle particelle di memoria flash, la misura reale, la conservazione di dati e leggere l'interferenza ed altre prove funzionali può anche guidare gli utilizzatori verificare lo stato dell'affidabilità delle particelle di memoria flash. Dopo che la prova è completata, la relazione sull'esperimento può esportare facilmente e rapidamente con una chiave, fornente ai clienti i dati di prova grafici più intuitivi e più accurati. Fornisca il riferimento di dati più intuitivo per la classificazione del grado e l'applicazione delle particelle di memoria flash e realizzi la classificazione intelligente basata sui risultati di ispezione di qualità delle particelle di memoria flash.

Il ※ la base della prova aderisce al supporto No.218 di JEDEC: Requisiti dell'azionamento di associazione B-2016 di tecnologia (SSD) e prova di resistenza semi conduttori semi conduttori Motho;

Il ※ la base della prova aderisce a JEDEC No.47 standard NVCE: Da qualificazione guidata da sforzo di associazione semi conduttrice di tecnologia dei circuiti integrati;

Il ※ le specifiche di progettazione del tavolo di controllo soddisfa le richieste dell'ambiente della temperatura della prova del industriale-grado;